解决方案
量子信息测试测量方案
量子密钥分发检测方案
量子密钥分配检测是针对量子密码设备特性进行一致性检测的软硬件综合性平台。
▪ 支持检测4类主流量子密码设备核心元器件的符合性验证
- 相位型QKD
- 偏振型QKD
- 高斯调制连续变量QKD
- 相位涨落量子随机数发生器
▪ 支持检测三种QKD设备的协议一致性（含量子态制备、量子态编解码、 量子态探测等光学信号处理过程和对基、纠错、保密放大等数字信号的后处理过程）。
▪ 支持检测量子密码设备的密钥生成速率、 成码率、最大安全距离、密钥一致性等性能指标。
▪ 支持检测量子密码设备抗攻击措施（如强光致盲攻击、分束攻击等）的实现一致性。
可定制化量子计算控制及测试系统
本系统将根据超导量子比特原理以及所采用的实现方案，根据控制与测量系统的需求，实现的可扩展超导量子计算集成控制系统。
▪ 支持通道数和功能定制
▪ 测量通道：将RF探测信号输入量子芯片并采回处理，提取量子比特信息，适用于半导体量子芯片微波测量、超导量子芯片测量
▪ 矢量源通道：可编程的多通道同步矢量调制信号，频率、幅度、相位高度可调
▪ AWG通道：可编辑的多通道同步任意波信号，适用于各类量子比特的逻辑门操作
▪ 高精度电源：提供<2 ppm的高精度电压信号，适用于各类量子比特的精密电学调控
半导体芯片测试测量方案
为分析新材料和新器件的电气特性提供了完善的解决方案，包含测试高功率半导体器件时需要的更高电压和功率水平、更快的切换时间、更高的峰电流和更低的漏电流。提供半导体生产环境需要的自动化、探测站集成、速度和吞吐量进行芯片分选、晶片验收和可靠性测试。
▪ 直流半导体检定需要全面的 I-V、C-V 和快速脉冲式测量。
▪ 测试高功率半导体器件时需要更高的电压和功率水平、更快的切换时间、更高的峰电流和更低的漏电流。
▪ 半导体生产环境需要自动化、探测站集成、速度和吞吐量进行芯片分选、晶片验收和可靠性测试。
QKD光学模块与光通信测试测量方案
QKD的光学模块指的是用于进行光量子态制备、探测和处理的模块，其中包括光源、诱骗态制备模块、编码模块、解码模块、单光子探测模块。我们将集成不同的模块测试测量方案，实现统一检测平台。
有线光通信包含光模块、收发机组件和传输系统，都需要进行下面的关键物理层测试：眼图和抖动性能、压力接收机测试、串扰和BER 测试及光调制分析。
量子信息相关解决方案
量子信息教育平台
